超低頻耐壓試驗(yàn)裝置的保護(hù)功能有哪些？
更新時(shí)間：2025-03-10 點(diǎn)擊次數(shù)：12次
超低頻耐壓試驗(yàn)裝置的保護(hù)功能主要包括以下幾個(gè)方面：
一、電流、電壓、波形數(shù)據(jù)采集
高壓側(cè)采樣：
采用電流、電壓、波形數(shù)據(jù)均直接通過高壓側(cè)采樣獲得，確保了數(shù)據(jù)的真實(shí)性和準(zhǔn)確性。
高壓側(cè)采樣避免了傳統(tǒng)低壓采樣方式中可能出現(xiàn)的長電纜引入的分布參數(shù)問題，從而提高了測試精度。
二、過壓保護(hù)
快速響應(yīng)：當(dāng)輸出超過所設(shè)定的限壓值時(shí)，儀器將迅速停機(jī)保護(hù)，動(dòng)作時(shí)間小于20毫秒。
這種快速響應(yīng)機(jī)制能夠有效防止因過壓而對(duì)被測設(shè)備或測試裝置本身造成的損害。
三、過流保護(hù)
高低壓雙重保護(hù)：
高壓側(cè)按設(shè)定值進(jìn)行精確停機(jī)保護(hù)，確保在高壓過流情況下能夠迅速切斷電源。
低壓側(cè)的電流超過額定電流時(shí)也將進(jìn)行停機(jī)保護(hù)，為低壓側(cè)提供了額外的安全保障。
無論是高壓側(cè)還是低壓側(cè)，動(dòng)作時(shí)間都小于20毫秒，確保了在過流情況下能夠迅速響應(yīng)并保護(hù)設(shè)備。
四、高壓輸出保護(hù)電阻設(shè)計(jì)
內(nèi)置保護(hù)電阻：高壓輸出保護(hù)電阻設(shè)計(jì)在升壓體內(nèi)，因此外部不需要另接保護(hù)電阻。
這種設(shè)計(jì)簡化了測試裝置的外部布線，同時(shí)也提高了系統(tǒng)的安全性和可靠性。
五、閉環(huán)負(fù)反饋控制電路
無容升效應(yīng)：由于采用了高低壓閉環(huán)負(fù)反饋控制電路，所以輸出無容升效應(yīng)。
容升效應(yīng)是指在電容充電過程中，由于電容兩端電壓不能突變而導(dǎo)致的電壓上沖現(xiàn)象。閉環(huán)負(fù)反饋控制電路能夠有效抑制這種現(xiàn)象的發(fā)生，從而保護(hù)被測設(shè)備免受過電壓的沖擊。
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